GE Panametrics 露點儀探頭MIS PROBE2技術(shù)參數(shù)

40多年來，GE氧化鋁水分探頭一直是工業(yè)水分測量的性能和價值標(biāo)準(zhǔn)。

在使用中，M系列濕度探頭通過互連電纜連接到GE濕度計控制臺。易用性、廣泛的測量范圍和嚴(yán)格

的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)使這些系統(tǒng)成為全球工業(yè)濕度測量的 。

內(nèi)置壓力和溫度測量

許多濕度測量參數(shù)的精確確定需要了解過程溫度和壓力。與安裝和使用單獨(dú)的溫度和壓力傳

感器相關(guān)的不便和限制已經(jīng)消除，這兩種功能都直接內(nèi)置在Moisture Image Series探頭中。

可提供一個用于測量-30至70°C（-22至158°F）溫度的非線性NTC熱敏電阻和五個固態(tài)壓阻傳感器，

用于測量高達(dá)5000 psig（345 bar）的壓力。

超低量程Ppbv標(biāo)度

Moisture Image Series 1和2分析儀的ppbv低量程是通過采用三種獨(dú)立但同樣重要的技術(shù)實現(xiàn)的。

首先，先進(jìn)的新型基于微處理器的濕度圖像系列探頭具有16位分辨率，使其能夠檢測傳感器阻抗的微

小變化，從而檢測濕度水平。

當(dāng)與VCR兼容配件相結(jié)合時，該傳感器在超高純度系統(tǒng)中提供 的性能。

可追溯到NIST的嚴(yán)格校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

每個MIS探頭的氧化鋁傳感器都在 先進(jìn)的濕度校準(zhǔn)設(shè)備中進(jìn)行單獨(dú)校準(zhǔn)。該設(shè)施經(jīng)過幾十年的

開發(fā)，可產(chǎn)生精確已知的水分濃度，可追溯到美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（NIST），每個傳感器在校準(zhǔn)

過程中都會暴露在該機(jī)構(gòu)中。